材料測試機 > X-Ray 膜厚計
非破壞非接觸式螢光X-Ray膜厚計 EX-2000

厘式(手提式)硬度測試機 HH-411

 

   規 格  EX-2000  
   厚度測量極限 解析度0.001um.  
 可測試項目 單層膜厚、雙層膜厚、三層膜厚、化學鎳膜厚、錫鉛合金膜厚及組成、壓鑄鋅上鍍銅、鎳二層同時測定、元素光譜分析、藥液分析
 油浸式小型微小焦點X線管,50KV管電壓,由上而下垂直照射方式
   濾波器 採用Co、Ni及數位式三種濾波器,可單一或同時使用  
 準直儀

使用五種孔徑一體式之Collimator (可自動設定切換方式)
0.05、0.1、0.2、0.3、0.5ømm
0.05*0.5、0.05、0.1、0.2、0.5ømm(選購)

 樣品觀察系統 彩色CCD及14"高畫質顯示幕
 多能譜分析器 使用256高頻分析器,光譜自動分析校正,執行測量及運算,非常快速
 使用最先進的日本NEC 586工業電腦系統及15英吋彩色高畫質顯示器
 檢量線(校正曲線)自動做成機能,可記憶60組/FD
 統計資料 20,000點/FD,選購可擴充至無線點/FD
 資料處裡

平均值、最大值、最小值、上下限值範圍、標準偏差、CP、CPK、中間統計、X-R管制圖、柱狀圖、輪廓剖面分佈圖、3次元分佈圖組

 底材補正
 安全裝置 由鎖匙開關控制X線輸出,可防止輻射外洩
 定位記憶可達3,000點,並可做定位計一補正及旋轉補正
 適用對象 IC業、電子業、PC板業、電鍍業、精密工業、裝飾業

 


台北市士林區士商路70號1樓
TEL :+886-2-2882-2505 FAX :+886-2-2882-2538
E-mail : cchang58@ms62.hinet.net    

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